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微觀形貌分析-掃描電鏡(SEM)儀器型號(hào):美國(guó)熱電Q45
項(xiàng)目介紹:掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。
樣品的要求
1. 粉末樣品:樣品量≥3mg(磁性樣品必須由承檢方制樣)。
2. 液體樣品:樣品量≥0.5ml。
3. 塊體樣品:長(zhǎng)*寬*高≤50mm*50mm*15mm.
4. 細(xì)胞及細(xì)菌樣品:2.5%的戊二醛保存,樣品離心后能覆蓋1.5ml離心管底部。
5. 生物組織樣品:2.5%的戊二醛保存,取材大小1-2mm3(大于這個(gè)尺寸戊二醛固定效果會(huì)不好)。